Spektrometry do badań w podczerwieni z transformacją Fouriera, w tym spektrometr FT/IR-4200 (JASCO Co., Japonia) z przystawką do badania materiałów proszkowych (PIKE Technologies, USA)
dr hab. inż. Ewelina Kusiak-Nejman, prof. ZUT (+ 48 91 449 4244, ekusiak@zut.edu.pl)

Spektrometr FT/IR-4200 wyposażony jest w przystawkę umożliwiającą analizę materiałów proszkowych. Za pomocą tego spektrometru można wyznaczyć widma IR, które są wykresem zależności przepuszczalności (transmitancji) lub absorbancji promieniowania od liczby falowej [cm¹]. Na podstawie widma można oznaczyć grupy funkcyjne umożliwiające identyfikację badanego związku. Aparat wykorzystywany jest do analizy preparowanych nanomateriałów, głównie fotokatalizatorów na bazie ditlenku tytanu.